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4 关系: 内建自测试，電子設計自動化，集成电路设计，扫描链。

内建自测试

内建自测试（built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。.

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電子設計自動化

电子设计自动化（Electronic design automation，縮寫：EDA）是指利用计算机辅助设计（CAD）软件，来完成超大规模集成电路（VLSI）芯片的功能设计、综合、验证、物理设计（包括布局、布线、版图、设计规则检查等）等流程的设计方式。.

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集成电路设计

集成电路设计（Integrated circuit design, IC design），根据当前集成电路的集成规模，亦可称之为超大规模集成电路设计（VLSI design），是指以集成电路、超大规模集成电路为目标的设计流程。.

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扫描链

扫描链（Scan chain）是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器，使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。.

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