扫描隧道显微镜和测绘学
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扫描隧道显微镜和测绘学之间的区别
扫描隧道显微镜 vs. 测绘学
扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,缩写为STM),是一种利用量子隧穿效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁及海因里希·罗雷尔在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明,两位发明者因此与电子显微镜的发明者恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。 扫描隧道显微镜技术是扫描探针显微术的一种,基于对探针和表面之间的隧穿电流大小的探测,可以观察表面上单原子级别的起伏。此外,扫描隧道显微镜在低温下可以利用探针尖端精确操纵单个分子或原子,因此它不仅是重要的微纳尺度测量工具,又是颇具潜力的微纳加工工具。. 測繪學研究測定和推算地面幾何位置、地球形状及地球重力場,据此測量地球表面自然物体和人工设施的幾何分布,编制各种比例尺地图的理論和技术的学科。测绘学的研究对象是地球的形态、位置、重力分布等地理空间信息,因而测绘学可认为是地球科学的一个分支学科。近年来,测绘学的研究对象还从地球表面扩大到了地外空间及地球内部构造等领域。.
之间扫描隧道显微镜和测绘学相似
扫描隧道显微镜和测绘学有(在联盟百科)0共同点。
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扫描隧道显微镜和测绘学之间的比较
扫描隧道显微镜有14个关系,而测绘学有48个。由于它们的共同之处0,杰卡德指数为0.00% = 0 / (14 + 48)。
参考
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