底片和透射电子显微镜

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底片和透射电子显微镜之间的区别

底片 vs. 透射电子显微镜

底片，是一种製成影像物料。现今广泛应用的底片是将卤化银涂抹在聚乙酸酯片基上，此種底片為軟性，捲成整捲方便使用，所以又稱膠卷，当有光线照射到卤化银上时，卤化银转变为黑色的银，经显影工艺后固定于片基，成为我们常见到黑白负片。彩色负片则涂抹了三层卤化银以表现三原色。除了负片之外还有正片及一次成像底片等等。 早期的底片用玻璃作片基，19世紀晚期塑膠工業技術成熟，壓成薄片的塑膠片取代玻璃成為片基。 底片以感光速度（din/ISO）來分別，由最低速之ISO25度至高速之ISO3200，一般來說感光度越低，畫質越細膩。最常用的膠卷為din21度/ISO100，其次是快片，即din24度/ISO200。其它速度的膠卷，由於價格，冲片技術要求特殊，在2000年左右數位攝影興起後，幾乎只有專業人士才會使用。但由於復古風興起的緣故，底片又再次稍為普及。. 透射电子显微镜（Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），简称--电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。 由于电子的德布罗意波长非常短，--电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，可以达到0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍。因此，使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构，比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法，如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。 在放大倍数较低的时候，TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候，复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同，因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式，可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。 第一台TEM由马克斯·克诺尔和恩斯特·鲁斯卡在1931年研制，这个研究组于1933年研制了第一台分辨率超过可见光的TEM，而第一台商用TEM于1939年研制成功。.